Les essais CEM, également connus sous le nom de compatibilité électromagnétique (CEM), l’un des indicateurs les plus importants de la qualité des produits, se réfèrent à l’évaluation complète de la taille des interférences (EMI) et de la capacité anti-interférences (EMS) des produits électroniques dans le champ électromagnétique. La mesure de la compatibilité électromagnétique se compose d’un site d’essai et d’instruments d’essai.
L’objectif de l’essai CEM est de détecter l’influence du rayonnement électromagnétique produit par les produits électriques sur le corps humain, le réseau électrique dans les lieux publics et d’autres produits électriques en fonctionnement normal.
Normes CEM
EN 55014-1 : Rayonnement des appareils électroménagers
EN 55014-2 : immunité aux radiations des appareils électroménagers
EN 55011 : Rayonnement des équipements industriels, scientifiques et médicaux
EN 55013/20 : Produits audio et vidéo
EN 55015 : Rayonnement des appareils d’éclairage
EN 61547 : immunité aux radiations pour les appareils d’éclairage
EN 55022 : Radiation des équipements de technologie de l’information
EN 55024 : Immunité aux radiations pour les équipements de technologie de l’information
EN 60601-1-2 : Compatibilité électromagnétique des équipements électroniques médicaux
EN 61000-6-1 : Rayonnement des équipements généraux utilisés dans les environnements résidentiels, commerciaux et industriels légers.
EN 61000-6-3 : immunité aux radiations des équipements d’usage général utilisés dans les environnements résidentiels, commerciaux et de l’industrie légère.
EN 61326 : Compatibilité électromagnétique des instruments et équipements de mesure
IEC 61000-4-4-2004 Essais et techniques de mesure de la compatibilité électromagnétique (CEM) Essais d’immunité de groupe aux impulsions électriques transitoires rapides
IEC 61000-4-5-2005 Essais de compatibilité électromagnétique (CEM) et techniques de mesure Essais d’immunité aux surtensions (chocs)
IEC 61000-4-11-2004 Essais et techniques de mesure de la compatibilité électromagnétique (CEM) – Essais d’immunité aux creux de tension, aux interruptions brèves et aux variations de tension
IEC 61000-4-2-2001 Essais et techniques de mesure de la compatibilité électromagnétique – Essais d’immunité aux décharges électrostatiques
Éléments d’essai CEM
Émission par conduction （9kHz-30MHz）
Pince de puissance （30MHz-300MHz）
Emissions magnétiques（9kHz-30MHz）
Émissions rayonnées（30MHz-18GHz）
La conduction intermittente interfère avec le CLICK
Harmoniques classe a, b, c, d
Scintillement de tension plt .pst
EDS（±0.1-±16.5kV） statique
Immunité aux rayonnements (en dessous de 1 GHz)
Groupe d’impulsions rapides EFT/B（±0.1-±4.4kV）
Surtension （0.1-6.6kV）
Immunité par conduction CS（0.1-30V）
Interférence avec le champ magnétique MS（0-120A/m）
Baisses de puissance（0%-100%）
Ondes oscillatoires Surtension 0,1-6,6kV
Immunité harmonique、interharmonique EFM 10Hz-400kHz （EN50366）